SMI-M7 数字图形化检测系统
针对图形化生产的产品实现自动化的快速缺陷测量与图形比对分析,相比传统的人工检测方式,大大提高了生产效率并减少人力成本;确保产品符合高品质标准,避免因使用低质量材料而导致的资源浪费。应用于OLED有机发光色素精密蒸镀MASK,IC载板的植球工艺、BGA 3D 封装印刷电铸模板/E-FAB、 3D 、PRINT FOFBGA、4~12寸半导体晶圆级封装WLP植球工艺-涵盖BGA、WLCSP、Flipchip、Bumping、MEMS、MCM(MCP)、WLP.SiP、TSV、Fan-0ut芯片常规芯片和5G芯片。高精密电铸镍合金网等。